渦流涂層測厚技術的基本原理和標準

來源:林上科技   發布時間:2020/05/29 08:40  瀏覽:7595
本文主要講述了渦流涂層測厚技術的基本原理及方法標準概況,希望能夠幫到您。

一、渦流涂層測厚技術的基本原理

渦流涂層測厚儀是高新技術的結晶,采用單片機技術,精度高、數字顯示、功耗低、操作簡便、無需校準、體積小、重量輕;且具備存儲、低電壓提示等特點。渦流涂層測厚儀廣泛用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。

渦流涂層測厚儀的基本工作原理是:采用了電渦流原理,在測頭內的線圈鐵芯通電后可以發生高頻磁場,經過測頭與被測涂層的金屬基材接觸發生的渦流大小來反映測頭與基材之間的間隔大小,測頭離金屬基材越近,渦流越大,越遠則渦流越小,基于這樣的原理可以找出渦流大小與間隔大小之間的比例關系,從而求出間隔大小,也就是涂層的厚度。

二、渦流涂層測厚方法標準概況

在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中,對渦流涂層測厚儀的標準、操作和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡述。其中有關影響測量精度的因素主要包括:

1.覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。

2.基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。

3.渦流涂層測厚儀對試樣測定存在邊緣效應,即對靠近試樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的。

4.任何一種涂層測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響。

5.試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。

6.基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精度,粗糙程度增加,影響增大。

7.渦流涂層測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物,涂層測厚儀測量時,應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。

采用單一渦流測厚法的儀器使用范圍不是很廣,因此市場上逐漸出現了同時采用兩種原理的涂層測厚儀,這種儀器同時采用了渦流測厚法和磁性測厚法,可以覆蓋渦流涂層測厚儀和磁性涂層測厚儀的測量范圍。常見的非磁性金屬為鋁,而常見的磁性金屬為鐵,因此這種雙原理的儀器就是我們說的鐵鋁兩用的涂層測厚儀。常見的鐵鋁兩用測厚儀有Qnix,TQC和林上涂層測厚儀,這些儀器的出現也使得涂層的厚度測量變得更加簡單,高效。

標簽: 涂層測厚儀
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